摘要
ABSTRACT
目录
第一章 绪论
1.1 研究背景
1.1.1 锗元素
1.1.2 应用背景
1.1.3 光纤温度传感器
1.2 研究现状与目的
1.2.1 半导体热光系数的研究现状
1.2.2 本论文的研究目的与内容
第二章 吸收边附近折射率温度系数的理论建模
2.1 材料的折射率与介电常数
2.1.1 折射率的宏观定义
2.1.2 介电常数的微观意义
2.1.3 Kramers-Kronig方程
2.2 半导体的光吸收
2.2.1 本征吸收
2.2.2 激子吸收
2.2.3 自由载流子吸收
2.2.4 晶格振动吸收
2.3 吸收边附近折射率温度系数的计算
2.3.1 吸收边附近折射率色散关系
2.3.2 吸收边附近折射率温度系数的理论推导
2.4 小节
第三章 锗膜热光系数的检测模型
3.1 锗膜的反射率模型
3.2 锗膜厚度对实验的影响
3.3 小节
第四章 锗膜的制作
4.1 镀膜
4.1.1 磁控溅射镀膜
4.1.2 真空蒸镀镀膜
4.2 锗膜的光学常数测量
4.2.1 椭偏仪的测量原理
4.2.2 椭偏仪测量过程
4.3 锗膜测量结果对比与薄膜质量分析
4.3.1 光学常数测量结果分析
4.3.2 锗膜质量检测与比较
4.4 小节
第五章 锗膜热光系数的检测
5.1 系统结构
5.1.1 光源模块
5.1.2 信号检测与控制模块
5.2 系统噪声分析及解决方案
5.3 实验结果
5.4 结果讨论与后续工作
致谢
参考文献
攻读硕士期间发表论文与专利