一种非均匀凹凸表面红外发射率分布的等温测量方法

摘要

一种非均匀凹凸表面红外发射率分布的等温测量方法，它涉及一种红外发射率分布的测量方法。本发明的目是为了有效测量非均匀凹凸表面的红外发射率分布，保证了能顺利地对具有该类表面的元器件进行热分析。加热片通电后，观察热电偶测得的温度在数据采集卡上显示的数值，待任意两个热电偶测得的温度差值均小于测量误差，此时迅速打开上盖并用红外热像仪拍摄得到样片表面的红外热像，此过程试件表面温度还来不及变化，还是一个近似的均温表面。对所拍摄得到的热像以及热电偶测得的温度、温度计测得的环境温度数据进行处理，即可得到试件表面的红外发射率分布。本发明实现对非均匀非平整表面红外发射率分布进行测量，操作简单方便，测量结果准确可靠。