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一种偏光片的外观缺陷检测系统及检测方法

摘要

本发明公开了一种偏光片的外观缺陷检测系统及检测方法,其偏光片的外观缺陷检测系统包括:用于发光的光源;用于透过光源发出的光线,放大偏光片的外观缺陷特征的缺陷放大装置;所述缺陷放大装置位于光源和偏光片之间。本发明提供的偏光片的外观缺陷检测系统及方法,通过缺陷放大装置透过光源发出的光线,放大偏光片的外观缺陷特征,使得偏光片的外观缺陷更加明显,从而使人眼或者图像采集装置能够获取外观缺陷特征更加明显的偏光片图像,提高了偏光片检测准确率和检测速度。

著录项

  • 公开/公告号CN102590221A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳大学;

    申请/专利号CN201210043724.5

  • 发明设计人 邓元龙;李学金;刘飞飞;

    申请日2012-02-24

  • 分类号G01N21/88(20060101);

  • 代理机构44268 深圳市君胜知识产权代理事务所;

  • 代理人刘文求;杨宏

  • 地址 518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号

  • 入库时间 2023-12-18 06:12:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-16

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/88 申请公布日:20120718 申请日:20120224

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/88 申请日:20120224

    实质审查的生效

  • 2012-07-18

    公开

    公开

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