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纳米级多叉指射频CMOS模型及其提取方法

摘要

本发明的一种纳米级多叉指射频CMOS模型,包括核心MOSFET模型和外围等效寄生参数子电路,所述核心MOSFET模型的STI应力模型参数为:根据大尺寸多叉指CMOS器件的常规NMOS直流模型的测量数据与常规CMOS直流模型仿真特性存在的差异修正常规MOS模型中的STI应力模型参数Kvtho、kuo和lkuo。本发明的模型能够适用于多叉指CMOS器件测量中,与器件能够很好的拟合,具有较高的精确度提取方法的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN102542094A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201110341140.1

  • 发明设计人 曹永峰;

    申请日2011-11-02

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人王敏杰

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号

  • 入库时间 2023-12-18 05:55:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-02

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20120704 申请日:20111102

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20111102

    实质审查的生效

  • 2012-07-04

    公开

    公开

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