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基于低温水热法实现大长径比ZnO纳米线阵列膜的多次外延生长方法

摘要

一种基于低温水热法实现大长径比ZnO纳米线阵列膜的多次外延生长方法,包括如下步骤:在硅基片上进行ZnO纳米籽晶层的溅射沉积;以ZnO纳米籽晶层作为引导层,利用水热法实现ZnO纳米线垂直取向阵列的生长,生长时间3小时;清洗试样,在ZnO纳米线阵列单次生长试样上继续应用水热法进行二次外延生长,生长时间3小时。本发明实现了单根ZnO纳米线顶端沿着(0001)方向的湿法外延生长,大幅度增大了纳米线的长径比,克服了单次ZnO纳米线生长条件下随生长时间延长的生长饱和现象。

著录项

  • 公开/公告号CN102534780A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201210009418.X

  • 发明设计人 贺永宁;康雪;张雯;彭文博;

    申请日2012-01-12

  • 分类号C30B29/16;C30B29/62;C30B19/00;

  • 代理机构西安通大专利代理有限责任公司;

  • 代理人徐文权

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号

  • 入库时间 2023-12-18 05:43:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-15

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):C30B29/16 申请公布日:20120704 申请日:20120112

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B29/16 申请日:20120112

    实质审查的生效

  • 2012-07-04

    公开

    公开

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