CCD芯片性能参数的测量系统

摘要

本发明公开了一种CCD芯片性能参数的测量系统，主要解决现有系统不具有通用性、测量参数不全面和光谱范围窄的不足。整个系统包括可调单色光源系统(1)、积分球(4)、暗室(5)、杜瓦瓶温控室(9)、皮安表(10)、主控电路系统(11)和主控计算机(14)，待测CCD和标准探测器安放在杜瓦瓶温控室中，调节可调单色光源系统输出单色光，该单色光经过积分球和暗室转变为均匀光后，照射在待测CCD和标准探测器上，待测CCD由主控电路系统驱动成像，并将CCD的输出信息上传到主控计算机上，主控计算机根据图像信息计算出待测CCD的性能参数。本发明具有通用性强、测量参数全面和稳定性高的优点，适用于对所有CCD芯片的测量。