分析读数装置及分析读数方法

摘要

本发明提供一种分析读数装置及分析读数方法，用于对化验检测的测试条进行读数和分析，该测试条上设有检测区和空白区，该分析读数装置包括光电检测电路和处理器，该光电检测电路包括：至少两个光源，与所述测试条的测试区和空白区位置相应，能够发出与所述测试条的测试区和空白区相应的光；和至少一个光检测器，光检测器接收来自两个区域的反射光线；所述至少两个光源所发出的光照射到测试条的测试区和空白区，并反射经由所述光检测器接收，然后反馈检测信息给处理器。分析读数方法：处理器根据时序设计分别控制至少两个光源分别点亮，光线照射在测试条的空白区和测试区后，经反射由光检测器接收，然后反馈检测信息给处理器，处理器根据所接收的检测信息进行分析和判定。本发明分析读数装置及分析读数方法，读数干扰少，精确度高。