公开/公告号CN102252640A
专利类型发明专利
公开/公告日2011-11-23
原文格式PDF
申请/专利权人 赫尔穆特费希尔有限责任公司电子及测量技术研究所;
申请/专利号CN201110118055.9
发明设计人 H.费希尔;
申请日2011-05-09
分类号G01B21/08;
代理机构中国专利代理(香港)有限公司;
代理人原绍辉
地址 德国辛德尔芬根
入库时间 2023-12-18 03:38:52
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-06-08
授权
授权
2013-03-20
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B21/08 申请日:20110509
实质审查的生效
2011-11-23
公开
公开
机译: 在大面积测量上表面上测量薄层厚度的方法和设备
机译: 在大面积待测表面上测量薄层厚度的方法和装置
机译: 在大面积待测表面上测量薄层厚度的方法和装置