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基于一维光子晶体缺陷模的光纤温度探测器

摘要

一种基于一维光子晶体缺陷模的光纤温度探测器,探测器光源位于第一传输光纤左侧,光纤耦合器位于第一传输光纤右侧,第二传输光纤位于光纤耦合器的右端,一维光子晶体位于第二传输光纤右端,第三传输光纤位于光纤耦合器左侧,并接收由一维光子晶体反射且经由第二传输光纤和光纤耦合器传输至第三传输光纤处的探测光,半导体光功率计位于第三传输光纤的左侧,并测定该第三传输光纤输出光的功率;所述的一维光子晶体为硅和二氧化硅在激光传输方向上交替排列组成,在其中一层硅介质层引入缺陷模;各个介质层的光学厚度相等,而引入缺陷模的硅介质层的厚度是各个介质层光学厚度的2-3倍。本发明不仅结构简单,体积小巧,而且测量精度高,成本低。

著录项

  • 公开/公告号CN102252777B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201110100781.8

  • 发明设计人 张礼朝;胡佳惠;赵曼彤;

    申请日2011-04-21

  • 分类号

  • 代理机构上海东创专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宁芝华

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-06-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01K 11/32 授权公告日:20121205 终止日期:20130421 申请日:20110421

    专利权的终止

  • 2012-12-05

    授权

    授权

  • 2012-01-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 11/32 申请日:20110421

    实质审查的生效

  • 2011-11-23

    公开

    公开

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