用于SiC MESFET直流测试的夹具

摘要

本发明公开了一种用于SiC MESFET直流测试的夹具，其包括馈电模块和用于固定待测SiC MESFET的固定支架，还包括一与馈电模块分立的基座，基座上设置上述固定支架。采用本发明克服了常规直流测试的夹具不能在高于200℃下使用的缺陷，在消除器件自激现象的同时，能够测试SiC MESFET在较高温度如200℃～600℃下的直流特性，为器件的可靠性监测提供了宝贵数据；本发明的结构简单，易于实现。