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在晶片解除卡紧期间减少晶片上颗粒数量的设备和方法

摘要

捕获颗粒远离室内的晶片传输区域。第一电极在该区域的一侧上。第二电极在该区域的相对侧上。跨过这些电极连接的电源在这些电极之间建立静电场。该电场将这些颗粒捕获在这些电极上,远离该区域。为了从该室传输该晶片,该第二电极安装该晶片用以处理,该第一电极对着该第二电极限定工艺空间。该区域在空间中,以及该空间的分隔部分将该区域与每个电极分开。通过同时终止颗粒该晶片的等离子处理、将该第二电极接地、施加正DC电势至该第一电极以及将该晶片从该第二电极解除卡紧进入该区域而促使远离该晶片。

著录项

  • 公开/公告号CN101711425A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 朗姆研究公司;

    申请/专利号CN200880021113.2

  • 发明设计人 赵尚俊;姜肖恩;汤姆·崔;韩太竣;

    申请日2008-06-12

  • 分类号

  • 代理机构上海华晖信康知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人樊英如

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 23:52:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-05-21

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/3065 申请公布日:20100519 申请日:20080612

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2010-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/3065 申请日:20080612

    实质审查的生效

  • 2010-05-19

    公开

    公开

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