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频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪

摘要

高精确度、长距离(几十到几百米)亚毫米量级测量仪器一直是国际上研究的难点和热点。本发明提出一种利用频率扫描干涉法进行远距离高精度绝对距离测量的系统,属于精密测量技术领域。该距离测量系统主要有无模跳频率扫描外腔半导体激光器、高精度法布里-珀罗腔、参考干涉计、测量干涉计,以及数据采集和控制系统组成。通过激光器的频率扫描利用干涉法可以直接测量相位差,所测的绝对距离和相位差成正比,通过相位解包裹得到完整的相位差,消除了模2π的不确定性,不存在绝对距离测量的不确定性。该系统具有测量精度高、快速、稳定、可靠等优点,适用于空间综合孔径子孔径间的距离测量、小行星编队、测绘、建筑以及军事等领域。

著录项

  • 公开/公告号CN101354248A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN200810223402.2

  • 发明设计人 张绪国;江月松;王长伟;

    申请日2008-09-27

  • 分类号G01C3/00;G01S11/12;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号北京航空航天大学

  • 入库时间 2023-12-17 21:23:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-12-29

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01C3/00 公开日:20090128 申请日:20080927

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-03-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-28

    公开

    公开

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