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高均匀性(In)GaAsP/(AlGa)0.5In0.5P外延片的生长方法

摘要

一种获得高均匀性(In)GaAsP/(AlGa)0.5In0.5P外延片的生长方法,包括:将衬底放入低压金属有机化学气相沉积系统的反应室中,外延生长前将反应室升温、降压;分别以III族金属有机源和V族氢化物源为先驱源,在载气带动下进入反应室,在衬底上依次生长缓冲层、下包层和下波导层;将氢化物磷源切换为有机磷源,其他先驱源不变,在载气带动下进入反应室,以低V/III比在下波导层上生长有源层;将有机磷源切换回氢化物磷源,在有源层上依次生长上波导层、上包层和欧姆接触层;关闭载气和所有先驱源,向反应室充入氮气,升压;将外延片在反应室中进行退火;将外延片从反应室中取出,完成外延片的制作。

著录项

  • 公开/公告号CN101358335A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-02-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200710119872.X

  • 发明设计人 仲莉;马骁宇;

    申请日2007-08-02

  • 分类号C23C16/22(20060101);H01L21/205(20060101);H01S5/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-06-18 17:41:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-03-23

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):C23C16/22 公开日:20090204 申请日:20070802

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-04-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-02-04

    公开

    公开

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