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应用于导电桥存储器的纳米金属插塞电极阵列的制作方法

摘要

本发明公开了一种应用于导电桥存储器的纳米尺寸金属插塞电极阵列的制作方法,包括:在衬底上淀积金属,作为导电桥存储器的下电极,接着在下电极上制备一层绝缘材料;在绝缘材料上采用光刻方法制备金属插塞电极阵列的小孔,孔底部为在衬底上淀积的金属;采用无电化学镀的方法在小孔内填充金属;采用化学镀方法制作纳米尺寸的金属插塞电极阵列,作为导电桥存储器的金属离子源;淀积一层绝缘材料作为金属离子的扩散层;淀积金属,作为导电桥存储器的上电极;光刻、干法刻蚀顶部金属形成顶部电极图形;钝化开孔,引出电极,完成纳米尺寸金属插塞电极阵列的制作。本发明避免了溅射、电镀、CVD等传统小孔填充方法的小孔填充质量不好、成本高等缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN101996935B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-11-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200910091406.4

  • 申请日2009-08-19

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/768 授权公告日:20121128 终止日期:20130819 申请日:20090819

    专利权的终止

  • 2012-11-28

    授权

    授权

  • 2011-05-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/768 申请日:20090819

    实质审查的生效

  • 2011-03-30

    公开

    公开

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