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制作半导体浅槽和深槽的方法

摘要

本发明公开了一种制作半导体深槽和浅槽的方法,该方法先做深槽,在填充物填到深槽大半后,再做浅槽,同时用高致密氧化物填满深槽和浅槽,这样一方面用STI(浅槽隔离)工艺完成深槽顶部填充,可以减少深槽隔离面积,另一方面由于降低光刻套刻精度要求,同时填充深槽和浅槽,也简化了工艺难度和复杂性。

著录项

  • 公开/公告号CN101140896A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;

    申请/专利号CN200610030966.5

  • 发明设计人 李永海;周正良;

    申请日2006-09-08

  • 分类号H01L21/762;

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人顾继光

  • 地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号

  • 入库时间 2023-12-17 19:54:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-08-26

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-05-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-03-12

    公开

    公开

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