公开/公告号CN101105465A
专利类型发明专利
公开/公告日2008-01-16
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;
申请/专利号CN200610028946.4
申请日2006-07-14
分类号G01N23/22(20060101);H01J49/02(20060101);
代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;
代理人顾继光
地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号
入库时间 2023-12-17 19:37:05
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2010-11-24
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N23/22 公开日:20080116 申请日:20060714
发明专利申请公布后的视为撤回
2008-03-05
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-01-16
公开
公开
机译: 具有识别功能的TEM样品,用于处理TEM样品的聚焦离子束装置和透射电子显微镜
机译: 具有识别功能的TEM样品,用于处理TEM样品的聚焦离子束装置和透射电子显微镜
机译: 利用三脚架抛光和聚焦离子束生产用于透射电子显微镜的样品的方法