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一种二维表面粗糙度评定中建立轮廓基准线的方法

摘要

一种二维表面粗糙度评定中建立轮廓基准线的方法,其特点在于:利用灰色滚动模型,对一个取样长度内原始轮廓的采样数据进行灰色建模,获得轮廓的模型曲线,并将评定长度内各取样长度所对应的模型曲线进行综合得到一条光滑的轮廓曲线,将此曲线作为粗糙度评定的轮廓基准线。本发明的原始轮廓数据无需服从典型分配,评定过程不损失原始数据,在整个评定长度内获得灰色基准线,无需事先去除形状误差,灰色基准线在整个评定长度内光滑自然,更接近高斯基准线。

著录项

  • 公开/公告号CN101082484A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN200710117791.6

  • 发明设计人 王中宇;孟浩;付继华;

    申请日2007-06-25

  • 分类号G01B21/30(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人贾玉忠;卢纪

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-12-17 19:28:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B21/30 授权公告日:20120905 终止日期:20130625 申请日:20070625

    专利权的终止

  • 2012-09-05

    授权

    授权

  • 2008-08-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-12-05

    公开

    公开

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