半导体装置、半导体装置的唯一ID及该唯一ID的验证方法

摘要

本发明涉及半导体装置、半导体装置的唯一ID及该唯一ID的验证方法，在步骤S1中，输入127位长的原数据(位串)[126:0]。接着，进入步骤S2，判定在步骤S1输入的位串[126:0]中为“1”的位是否多于一半(即64个以上)。而且，当是64个以上时，进入步骤S3。接着，在步骤S3中，使位串[126:0]反转，并且使作为反转位的位[127]＝1。然后，进入步骤S5。接着，在步骤S5中，对分别与位串[126:0]和位[127]相对应的熔丝实施LT。