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减少CMOS器件中的源极和漏极寄生电容

摘要

一种制造基于半导体的器件的方法,包括:提供掺杂的半导体衬底;将第二掺杂剂引入衬底中以限定pn结;和将中和物质引入pn结附近的衬底中以减少与pn结相关的电容。基于半导体的器件包括具有第一和第二掺杂剂的半导体衬底。第一和第二掺杂剂限定pn结,并且中和物质中和pn附近的第一掺杂剂的一部分以减少与pn结相关的电容。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-04-22

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-10-31

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-09-05

    公开

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