首页> 中国专利> 形成焊接掩模的方法及其装置和形成电路构图的内部介电层的方法

形成焊接掩模的方法及其装置和形成电路构图的内部介电层的方法

摘要

在用于形成焊接掩模的方法中,将光致成像墨涂敷到载体膜上,以在载体膜上形成光致成像墨层。使光致成像墨层变干,以形成光致成像抗蚀剂层,由此形成至少一个光致成像抗蚀剂层承载膜。将光致成像抗蚀剂层承载膜层叠到衬底的至少一侧,以使光致成像抗蚀剂层的上表面与衬底接触。通过载体膜使光致成像抗蚀剂层曝光于成像光。从光致成像抗蚀剂层去除载体膜以形成曝光的抗蚀剂层。显影曝光的抗蚀剂层以形成显影的抗蚀剂层;硬化显影的抗蚀剂层以在衬底上形成焊接掩模。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-08-21

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/77 申请公布日:20070411 申请日:20040323

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2007-06-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-04-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号