首页> 中国专利> 化学机械抛光装置及其抛光垫的清洗方法与平坦化的方法

化学机械抛光装置及其抛光垫的清洗方法与平坦化的方法

摘要

一种化学机械抛光装置,适用于抛光晶片,此化学机械抛光装置包括一抛光台、一抛光垫、一研浆供应装置、一晶片承载器以及一高压液体清洗装置。其中,抛光垫配置于抛光台上,用以抛光晶片;研浆供应装置配置于抛光台上方,用以提供研浆;晶片承载器配置于抛光台上,用以承载晶片使其与抛光垫接触;高压液体清洗装置配置于抛光台上方,其是利用高压液体来清洗抛光垫,以去除抛光垫上的杂质。

著录项

  • 公开/公告号CN1947945A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-04-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联华电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200510113718.2

  • 申请日2005-10-14

  • 分类号B24B39/06(20060101);B24B53/02(20060101);B24B55/00(20060101);B24B57/02(20060101);H01L21/304(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波;侯宇

  • 地址 台湾省新竹科学工业园区

  • 入库时间 2023-12-17 18:29:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-05-06

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-06-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-04-18

    公开

    公开

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