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利用ToF-SIMS的细胞代谢产物的直接检测方法

摘要

公开了一种利用飞行时间二级离子质谱(ToF-SIMS)通过表面分析筛选新的生物物质的快速而有效的方法。该方法依赖事先接触了固体生长培养基的多孔膜上生长的微生物阵列的表面筛选。ToF-SIMS分析分辨产生不同物质的生物体,或者直接作为分子产物,或者间接通过使用多元统计学数据还原技术。该方法与传统微生物筛选方法相比有很多优点,传统方法要求样品制备和用于进行分析的时间。

著录项

  • 公开/公告号CN1777469A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-05-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 纳幕尔杜邦公司;

    申请/专利号CN200480001561.8

  • 发明设计人 D·P·奥基菲;K·G·洛伊德;

    申请日2004-09-09

  • 分类号B01D59/44;C12Q1/04;C12Q1/24;G01N23/00;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人郭广迅

  • 地址 美国特拉华州

  • 入库时间 2023-12-17 17:16:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-05-23

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2006-05-24

    公开

    公开

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