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在划片格线中形成缺陷预防沟槽

摘要

本发明提供了一种对微电子器件晶片进行划片的方法,该方法包括在微电子器件晶片上的至少一个划片格线中形成至少一个沟槽,其中该沟槽防止由于随后利用晶片切割机进行划片而造成在微电子器件晶片互连层中的开裂和/或分层问题。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-09-23

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2005-11-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-09-07

    公开

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