首页> 中国专利> 一种硅微型驻极体声传感器储电膜的化学表面修正工艺

一种硅微型驻极体声传感器储电膜的化学表面修正工艺

摘要

本发明为一种硅微型驻极体声传感器储电膜的化学表面修饰工艺。它利用带抽气阀门的玻璃容器,其底部放置试剂HMDS或DCDMS,上面放置待处理的含SiO2或Si3N4/SiO2驻极体薄膜的Si片,在试剂的纯饱和蒸汽下,进行气相反应,避免水或其它活性物质对薄膜表面的污染,本发明工艺可以明显改善SiO2、Si3N4/SiO2的驻极态,确保电荷储存的稳定性。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04R31/00 授权公告日:20100512 终止日期:20130624 申请日:20040624

    专利权的终止

  • 2011-12-28

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H04R31/00 变更前: 变更后: 变更前: 变更后: 申请日:20040624

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2010-05-12

    授权

    授权

  • 2007-09-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-03-16

    公开

    公开

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