印刷电路板测试接入点结构及其制造方法

摘要

本发明提供了用于接入印刷电路板的测试点的测试接入点结构及其制造方法。在迹线沿着xy平面印刷的xyz坐标系统中，z轴尺寸被用于实现测试接入点结构。每一个测试接入点结构在位于迹线上方的测试接入点被导电连接到迹线，并沿着xyz坐标系统的z轴位于印刷电路板外露表面的上方，以对于外部器件的电学探测是可接入的。