首页> 中国专利> 一种交流采样计算的新方法和基于此方法的“真有效值”采样集成电路

一种交流采样计算的新方法和基于此方法的“真有效值”采样集成电路

摘要

对交流电量的测量,早期普遍采用直流采样,在交流采样法中,有一种计算所谓“真有效值的”的交流采样法,该方法的实质在于通过把交流周期信号离散成若干点值,再通过离散积分计算其均方根值(RMS)或“真有效值”。计算均方根值,需要耗费大量时间。理论和实际应用证明,本发明方法较之现有方法可提高速度数千倍。本发明是一种交流采样计算的新方法,并且根据这种方法可以制造出一种新型的“真有效值”(RMS)转换器件。该方法是一种借助高级计算机(如PC机)完成采样结果的数值处理,而单片微处理器或微控制器(MCU)只作数值地址的索引查找,或只作量值比较判断的计算方法。

著录项

  • 公开/公告号CN1566965A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 张若愚;

    申请/专利号CN03129413.8

  • 发明设计人 张若愚;

    申请日2003-06-19

  • 分类号G01R19/02;G01R19/25;G06F17/00;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200235 上海市徐汇区康健路漕泾一村9号601室

  • 入库时间 2023-12-17 15:47:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-04-02

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2006-06-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-01-19

    公开

    公开

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