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深浮雕连续非球面微透镜高保真传递方法

摘要

本发明公开了一种深浮雕连续非球面微透镜的高保真传递方法,根据实验结果提取出刻蚀各工艺参数对刻蚀结果的影响规律,建立起工艺参数影响刻蚀结果的数据库,然后根据该数据库建立大浮雕深度微光学元件高保真传递技术的工艺模型,最后通过该工艺模型提出ICP刻蚀各个工艺参数对刻蚀结果的影响关系,本发明解决了传统加工技术难以实现的深浮雕非球面微透镜制作问题,微光学元件面形保真度高。根据该工艺模型,可以有效提高制作深浮雕微光学元件的效率,降低了生产成本,并用于小批量生产微光学元件。

著录项

  • 公开/公告号CN1553224A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN03123572.7

  • 发明设计人 邱传凯;杜春雷;

    申请日2003-05-29

  • 分类号G02B3/08;G03F7/00;G06F7/00;

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人刘秀娟

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2023-12-17 15:47:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-02-20

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2006-06-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-12-08

    公开

    公开

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