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减少静摩擦和钝化微电机表面的晶片水平处理方法及其所用化合物

摘要

本发明公开了在微电机结构上形成持久的抗静摩擦表面的方法,且该结构仍是以晶片的形式存在(例如在它们被分割成装配封装用的分散器件之前)。该方法包括产生低静摩擦表面的材料的汽相沉积。它还公开了有效地赋予芯片以抗静摩擦性质的化合物,这些化合物包括苯基烷氧基硅烷、聚苯基硅氧烷、硅醇终止的苯基硅氧烷和类似材料。

著录项

  • 公开/公告号CN1397091A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2003-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 模拟装置公司;

    申请/专利号CN01804444.1

  • 发明设计人 约翰·R·马丁;

    申请日2001-01-29

  • 分类号H01L21/31;H01L21/469;H01L21/00;

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人过晓东

  • 地址 美国马萨诸塞州

  • 入库时间 2023-12-17 14:36:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-02-22

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L21/31 变更前: 变更后: 申请日:20010129

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2007-05-02

    授权

    授权

  • 2003-05-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2003-02-12

    公开

    公开

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