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测试嵌入式模拟/混合信号磁心的方法和结构

摘要

测试具有微处理器磁心和存储器磁心的集成电路芯片中的嵌入式模拟磁心的一种方法。其包括下列步骤:在微处理器磁心和将被测试的模拟磁心之间的集成电路芯片上提供一个测试寄存器,测试该微处理器磁心和该存储器磁心,使用一在该微处理器磁心上运行的汇编语言测试程序,以由该微处理器磁心产生一测试模式,通过该微处理器磁心来将该测试模式应用于该模拟磁心,并且由该微处理器磁心或一个外部提供的测试系统来求得模拟磁心的响应值。

著录项

  • 公开/公告号CN1373505A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2002-10-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社鼎新;

    申请/专利号CN01104371.7

  • 发明设计人 罗池特·雷兹曼;

    申请日2001-02-28

  • 分类号H01L21/66;G01R33/00;

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人蹇炜

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-17 14:27:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-06-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/66 授权公告日:20060322 申请日:20010228

    专利权的终止

  • 2006-03-22

    授权

    授权

  • 2004-05-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-10-09

    公开

    公开

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