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基于测试码的测试:多测试位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键问题

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@@ 1 介绍rn多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足,使得并行测试效率降低.测试系统架构不断地发展,寻求并行测试效率的提高.这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,以实现更高的并行测试效率.

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来源
《中国集成电路》 |2010年第8期|64-66|共3页
作者
Jack Weimer;
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作者单位

泰瑞达,Eagle业务部;

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