使用Multi-Sector技术提高混合信号芯片的并行测试效率

摘要

cqvip:测试系统的设计面临着越来越多的挑战。工厂产量的需求多种多样，芯片的测试要求也越来越复杂，如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机。根据测试的产品不同，测试生产线成本的管理和策略也不一样。有大批量产品的工厂通常是通过最大化测试位数量来提高效率。然而，批量小、产品种类多的工厂发现提高测试位数量未必最好。