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实现塞曼背景校正原子吸收的背景值计算和显示的方法

摘要

本发明公开了一种塞曼背景校正原子吸收的一种背景值计算和显示方法,其特征在于:在进行制作校正曲线的同时拟合计算参考道吸光度与校正了背景的原子吸收信号的相关关系,即计算A

著录项

  • 公开/公告号CN102141509B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-10-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华之光谱仪器有限公司;

    申请/专利号CN201010103279.8

  • 发明设计人 刘志高;陈建钢;杨啸涛;

    申请日2010-01-29

  • 分类号

  • 代理机构上海天翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人朱妙春

  • 地址 201700 上海市青浦区白鹤镇鹤祥路1号255

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/31 授权公告日:20121024 终止日期:20150129 申请日:20100129

    专利权的终止

  • 2012-10-24

    授权

    授权

  • 2011-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/31 申请日:20100129

    实质审查的生效

  • 2011-08-03

    公开

    公开

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