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半导体器件和鉴别好坏半导体器件的方法

摘要

本发明在半导体器件的IC单元的输入-输出端单元上提供了一个运行检查电路单元,并且设有一个热敏树脂层作为顶层。用作发热元件的晶体管被用于运行检查电路单元中IC单元的各个输入-输出端。如果作为运行检查的结果而探测到反常现象,一个大电流流过连接于有问题的输入-输出端的晶体管,引起热耗散。此热量反过来又改变顶部热敏树脂层上对应区域的颜色。借助于由目测识别颜色的改变,可鉴别好坏半导体器件。

著录项

  • 公开/公告号CN1137639A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1996-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 索尼株式会社;

    申请/专利号CN96100683.8

  • 发明设计人 井手和宪;

    申请日1996-01-24

  • 分类号G01R31/28;

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人范本国

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-17 12:48:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2001-10-17

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 1998-04-29

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 1996-12-11

    公开

    公开

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