晶体管反偏二次击穿测试装置

摘要

本发明的装置对被测器件施加连续脉冲功率，当发生反偏二次击穿时，通过设置在基极电路中的反偏二次击穿检测器检测射频振荡，而后经单稳、R-S触发器进行反偏二次击穿指示、读数、终止测试一系列操作。与此同时，从被测器件的集电极设置一套独立的保护电路。该电路检测在集电极出现的任何负沿，并加以保护，由于负沿触发的高速度可以实现无损伤测试。又由于该高速保护电路所固有的微小延迟与SB检测器射频检测的脉冲形成电路的时间差，使保护与SB指示二者互不影响。