在以微处理器为基础的装置内用于对存贮器进行高速高准确度的功能测试的方法和系统

摘要

一种在待测的以微处理器为基础的装置或插件板中对存贮器进行高速、高准确度的功能测试的方法和系统，它包括一个在测试中永久有效地连到待测装置的总线结构上、并按待测装置的时钟速率工作的检测系统。测试程序可存贮在待测装置自己的存贮器内，或者用存贮器覆盖技术将其从测试系统的存贮器电转移至待测存贮器。利用较新型的微处理器的数据块移动和比较的特点进一步提高了存贮器测试速度。提供了利用块移动和比较特点的一种算法。