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在单次光刻曝光通过过程中形成多个空间图像

摘要

在单次曝光通过过程期间,使光束中的光脉冲的集合朝向晶片穿过掩模;在单次曝光通过过程期间,基于脉冲的集合中的穿过掩模的光脉冲来在晶片上生成至少第一空间图像和第二空间图像,第一空间图像在晶片上的第一平面处并且第二空间图像在晶片上的第二平面处,第一平面和第二平面在空间上彼此不同并且沿着传播方向以分离距离彼此分离;以及形成三维半导体组件。

著录项

  • 公开/公告号CN111433674A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西默有限公司;

    申请/专利号CN201880077675.2

  • 申请日2018-09-26

  • 分类号G03F7/00(20060101);G03F7/20(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人董莘

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 11:28:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/00 申请日:20180926

    实质审查的生效

  • 2020-07-17

    公开

    公开

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