法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-28
公开
公开
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 一种用于在基板表面上加工毫米,微米或纳米结构的方法
机译: 一种用于处理基板表面上的毫米级和/或微米级和/或纳米级结构的方法