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一种全定制低漏电数字电路标准单元设计方法

摘要

一种全定制低漏电数字电路标准单元设计方法,在电路设计中:采用短沟道宽度和大沟道长度的晶体管,以增大数字电路标准单元电路导通电阻,抑制漏端感应源端势垒降低效应;并采用衬底连接大电阻单独偏压的方式,抑制晶体管栅电容的充放电。在版图设计中,单元版图定高,N阱和衬底采用可变动态高度,并取消填充单元,在每个单元版图中增加衬底和N阱接触,以避免尺寸增大和布局布线带来的闩锁效应,充分利用面积空间,本发明还提供了底层金属布线缺口除错方法,本发明基于深亚微米/纳米尺度CMOS集成电路制造工艺,所设计的数字电路标准单元具有较好的静态漏电性能,能实现原有工艺库提供的各单元电路基本功能,可用于综合全定制数字大规模集成电路。

著录项

  • 公开/公告号CN111488722A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN202010301436.X

  • 发明设计人 姜汉钧;尹说;王志华;张春;

    申请日2020-04-16

  • 分类号

  • 代理机构西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人段俊涛

  • 地址 100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室

  • 入库时间 2023-12-17 11:20:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F30/392 申请日:20200416

    实质审查的生效

  • 2020-08-04

    公开

    公开

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