首页> 中国专利> 一种基于多频相移方案的发光表面微观三维测量方法

一种基于多频相移方案的发光表面微观三维测量方法

摘要

本发明公开了一种基于多频相移技术的发光目标微观三维测量方法。本发明在没有饱和的情况下,使用标准相移算法来计算相位值;在饱和区域,使用广义相移算法来计算包裹相位;对于非饱和强度小于3的过饱和区域,利用低频条纹图像中可能提取的相位来填充最终相位图,以提高测量的完整性。经过相位展开和立体匹配后的双视远心测量系统,实现高精度的发光表面的三维重建。本发明从不受光强饱和影响的相移条纹图像的子集计算突出显示区域的相位,提出了一种多频相移方案来提高发光表面最终相位图的完整性,并在此基础上结合显微远心立体视觉系统,实现了完整、高精度的三维重建。

著录项

  • 公开/公告号CN111473745A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010577091.0

  • 发明设计人 左超;张晓磊;沈德同;

    申请日2020-06-23

  • 分类号G01B11/25(20060101);

  • 代理机构11480 北京翔瓯知识产权代理有限公司;

  • 代理人向维登

  • 地址 210000 江苏省南京市建邺区嘉陵江东街8号科技综合体B4幢二单元4层

  • 入库时间 2023-12-17 10:58:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/25 申请日:20200623

    实质审查的生效

  • 2020-07-31

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号