公开/公告号CN111473745A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-07-31
原文格式PDF
申请/专利权人 南京理工大学智能计算成像研究院有限公司;
申请/专利号CN202010577091.0
申请日2020-06-23
分类号G01B11/25(20060101);
代理机构11480 北京翔瓯知识产权代理有限公司;
代理人向维登
地址 210000 江苏省南京市建邺区嘉陵江东街8号科技综合体B4幢二单元4层
入库时间 2023-12-17 10:58:52
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-25
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/25 申请日:20200623
实质审查的生效
2020-07-31
公开
公开
机译: 一种超导薄膜的表面电阻的测量方法,一种超导薄膜的表面电阻的测量方法,一种超薄薄膜共振电路的Q值的测量方法,一种用于超导薄膜的超导体的表面电阻的测量方法以及一种方法
机译: 表面微观结构的测量方法表面微观结构的测量数据分析方法和X射线散射测量设备
机译: 表面微观结构测量方法,表面微观结构测量数据分析方法和X射线散射测量设备