一种提高芯片测试效率的测试方法

摘要

本发明涉及芯片测试电路设计领域。公开了一种提高芯片测试效率的测试方法。针对现有测试方法一次只能测试一个模块的不足，提出了一种能同时测试多个模块的测试方法。该测试方法采用测试组包的方式，可对多个模块同时进行测试，有效提高了测试效率。