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单色及多色光X射线的单晶/定向晶应力测量系统和方法

摘要

本发明公开了一种单色及多色光X射线的单晶/定向晶应力测量系统和测量方法,测量系统中,包括:多轴样品台,样品台控制器,多色光X射线发生器,单色光X射线发生器,X射线探测器,共心点调整模块,计算储存模块,控制模块。测量方法中,包括:调节样品表面到共心点;多色光X射线发生器产生多色光X射线,样品曝光,X射线探测器采集衍射峰信号;基于采集到的衍射峰信号,计算储存模块计算样品取向;多轴样品台驱动处于共心点的样品表面旋转和倾转,单色X射线发生器照射样品表面,采集模块采集样品表面的衍射峰信号;基于采集到的衍射峰信号,计算储存模块计算应力数据。

著录项

  • 公开/公告号CN111238707A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN202010126225.7

  • 发明设计人 陈凯;朱文欣;

    申请日2020-02-27

  • 分类号G01L5/00(20060101);

  • 代理机构11429 北京中济纬天专利代理有限公司;

  • 代理人覃婧婵

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号

  • 入库时间 2023-12-17 09:33:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01L5/00 申请日:20200227

    实质审查的生效

  • 2020-06-05

    公开

    公开

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