首页> 中国专利> 一种测量自由曲面任意点厚度的装置及其测量方法

一种测量自由曲面任意点厚度的装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种测量自由曲面任意点厚度的装置及其测量方法,装置包括超声测厚主体结构、缓冲连接结构和耦合剂供应结构,超声测厚主体结构用于探头角度自适应调整和探头与工件接触力的测量,使得测量轴线与工件接触点的矢法线自适应重合且接触稳定;缓冲连接结构用于保证测厚主体结构与外部运动机构末端的同轴连接,同时起到缓冲和导向作用;耦合剂供应线路保证探头与工件的耦合稳定。本发明可解决薄壁类复杂曲面工件厚度的自动检测问题,装置可安装在运动机构末端实现自由曲面工件厚度自动检测,也可安装在数控机床刀柄末端,实现在机测量获得零件毛坯壁厚或加工中的剩余壁厚分布状态。

著录项

  • 公开/公告号CN111174739A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201911354513.1

  • 申请日2019-12-25

  • 分类号

  • 代理机构南京理工大学专利中心;

  • 代理人陈鹏

  • 地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号

  • 入库时间 2023-12-17 09:16:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B17/02 申请日:20191225

    实质审查的生效

  • 2020-05-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号