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公开/公告号CN111077669A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-04-28
原文格式PDF
申请/专利权人 西安电子科技大学;
申请/专利号CN201911367068.2
发明设计人 刘飞;刘佳维;邵晓鹏;段景博;杨思原;冯位欣;
申请日2019-12-26
分类号G02B27/00(20060101);
代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人李园园
地址 710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
入库时间 2023-12-17 08:47:12
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-05-22
实质审查的生效 IPC(主分类):G02B27/00 申请日:20191226
实质审查的生效
2020-04-28
公开
机译: 用于干涉成像中基于子孔径的像差测量和校正的系统和方法
机译: 干涉成像中基于亚孔径的像差测量和校正的系统和方法
机译: 在干涉成像中用于基于子孔径的像差测量和校正的系统和方法
机译:基于实时光线的无旋转对称性的成像光学系统中单个表面像差场中心的定位方法
机译:使用成像系统像差校正电子显微镜微结构分析方法的进展(像差校正TEM)
机译:基于优化的基于模型的波前无传感器自适应光学系统对高速飞机的共形窗口进行动态像差校正
机译:使用研究(第4部分)光学仿真对光学系统的数值孔径的评价,使用该研究对具有成像的工具的位置检测的光学系统的数值孔径
机译:平面对称光学系统中的色差校正和偏振像差分析的自适应分散公式
机译:Nijboer-Zernike扩展方法在高数值孔径光学系统中进行像差和双折射的获取
机译:采用合成孔径的光学系统中像差的全息校正