一种基于Lie-Mean的平板外壳缺陷检测方法和系统

摘要

本发明公开了一种基于Lie‑Mean的平板外壳缺陷检测方法和系统，包括如下步骤：获取平板外壳图像并进行图像预处理；将预处理后的图像进行人工标记，标记存在缺陷的平板外壳产品，给出存在缺陷的类别，得到数据样本集；将上述得到的数据样本集映射到李群流形空间中，计算得到每个产品类别的李群内均值；将待检测平板外壳图像进行图像预处理，并将其映射到李群流形空间中，得到测试样本；计算测试样本到上述所得到的各类别李群内均值的测地线距离，将距离最短的李群内均值所属类别判为测试样本的类别。本发明的优点：(1)具有良好的理解性；(2)计算参数少，计算性能优，并且时延小，保证了良好的工作效率的同时提升了分类的准确度。