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公开/公告号CN111198344A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-05-26
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院物理研究所;
申请/专利号CN202010085872.8
发明设计人 刘刚钦;潘新宇;郭彦召;商延兴;卢亚男;俞永宏;
申请日2020-02-11
分类号G01R33/12(20060101);G01N27/72(20060101);
代理机构11521 北京市英智伟诚知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人刘丹妮;姚望舒
地址 100190 北京市海淀区中关村南三街8号
入库时间 2023-12-17 07:51:36
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-19
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/12 申请日:20200211
实质审查的生效
2020-05-26
公开
机译: 使用基于单个螺线管的磁致动器的二维光纤扫描仪
机译: 利用金刚石磁成像进行磁性颗粒分析的方法和装置
机译:弯曲调制技术在扫描近场光学显微镜中弯曲光纤探头的极化特性和磁光成像
机译:基于超快超连续光纤激光器的泵浦探针扫描磁光Kerr效应显微镜,用于研究皮秒级时间和微米级空间分辨率的半导体在低温下的电子自旋动力学
机译:具有磁驱动谐振光纤悬臂的全范围傅里叶域光学相干断层成像成像探头
机译:使用GaAs / Algaas和铋微厅探头使用室温扫描霍尔探针显微镜磁磁域的磁性成像
机译:基于3D和4F磁离子的有效旋转1/2磁绝缘子的磁性研究=基于磁3D和4F离子的有效自旋-1 / 2磁隔离器的磁检验
机译:的3D断层扫描磁荧光成像纳米金刚石
机译:利用量子点对地质样品进行微米级磁成像 金刚石显微镜
机译:用于连续磁场分布的磁光成像探头。