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III族氮化物光电子器件的制作方法

摘要

本发明公开了一种III族氮化物光电子器件的制作方法。所述制作方法包括在衬底上生长形成光电子器件结构的步骤,光电子器件结构包括N型层、有源区发光层及P型层;以及还包括:在所述光电子器件结构上设置掩模,并利用所述掩模至少对所述N型层、有源区发光层及P型层中的任一者或多种进行选择性氧化,从而调控所述光电子器件结构的出光区域的面积和/或形状。本发明实施例提供的III族氮化物光电子器件的制作方法,采用氧化工艺控制器件出光面积,氧化工艺具有宽度、深度可控等特点,低横向效应避免了对芯片侧壁造成的刻蚀损伤,并且可以把器件有源区出口面积控在微米量级,还可以控制出光孔的形状,对有源区无损伤,且能够提高芯片的峰值发光效率。

著录项

  • 公开/公告号CN110957204A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201811127175.3

  • 申请日2018-09-26

  • 分类号

  • 代理机构南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人王锋

  • 地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖高教区若水路398号

  • 入库时间 2023-12-17 07:17:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20180926

    实质审查的生效

  • 2020-04-03

    公开

    公开

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