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窗口的硬度类似于抛光层的抛光垫

摘要

实施例涉及抛光垫,其包括硬度与其抛光层类似的窗口。因为抛光垫包括硬度和抛光率与其抛光层类似的窗口,所以它能产生防止CMP工艺期间划伤晶片的效果。另外,抛光垫的抛光层和窗口相对于温度具有类似的硬度改变率,因此它们可保持类似的硬度,而与CMP工艺期间温度的改变无关。

著录项

  • 公开/公告号CN110785259A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SKC株式会社;

    申请/专利号CN201880042418.5

  • 发明设计人 尹晟勋;柳俊城;徐章源;安宰仁;

    申请日2018-07-10

  • 分类号B24B37/20(20060101);B24B37/24(20060101);H01L21/306(20060101);

  • 代理机构31283 上海弼兴律师事务所;

  • 代理人薛琦

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-12-17 07:08:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B37/20 申请日:20180710

    实质审查的生效

  • 2020-02-11

    公开

    公开

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