IGBT模块封装结构及IGBT芯片的温度检测方法

摘要

本发明提供了一种IGBT模块封装结构及IGBT芯片的温度检测方法，包括：电性连接层，用于为设置其上的导体元件与外部元件提供电性连接媒介；芯片层，固定设置于电性连接层；端子；以及导线，用于实现电路互连；芯片层和端子经电性连接层由导线电性连接，连接于芯片层和端子之间的导线与电性连接层部分连接，和芯片层和端子经导线直接电性连接的连接方式相比，能够使芯片层产生的热量至少部分经导线和电性连接层接触的区域传导至绝缘基板，这样就减少了导线传导至端子的热量，降低了端子的温度，保证IGBT模块的正常工作，并减少了IGBT模块因过热而损毁的可能，增加了IGBT模块的使用寿命，解决因端子处的热量难于散发而导致IGBT模块可能因过热而损坏的技术问题。