首页> 中国专利> 竖向延伸存储器单元串的阵列及用于形成竖向延伸存储器单元串的阵列的方法

竖向延伸存储器单元串的阵列及用于形成竖向延伸存储器单元串的阵列的方法

摘要

本申请案涉及竖向延伸存储器单元串的阵列及用于形成竖向延伸存储器单元串的阵列的方法。一种用于形成竖向延伸存储器单元串的阵列的方法包括形成包括垂直交替绝缘层及字线层的堆叠。堆叠包括堆叠的第一层与第二层之间的蚀刻停止层。蚀刻停止层具有与绝缘层及字线层的组合物不同的组合物。进行到蚀刻停止层上方的绝缘层及字线层中直到蚀刻停止层的蚀刻,以形成具有包括蚀刻停止层的个别基底的沟道开口。穿透蚀刻停止层以使沟道开口中的个别者延伸穿过蚀刻停止层。在使个别沟道开口延伸穿过蚀刻停止层之后,进行到蚀刻停止层下方的绝缘层及字线层中且穿过绝缘层及字线层的蚀刻,以使个别沟道开口更深地延伸到蚀刻停止层下方的堆叠中。

著录项

  • 公开/公告号CN110890374A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN201910844251.0

  • 申请日2019-09-06

  • 分类号H01L27/11519(20170101);H01L27/11529(20170101);H01L27/11531(20170101);H01L27/11556(20170101);H01L27/11565(20170101);H01L27/11573(20170101);H01L27/11582(20170101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人王龙

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2023-12-17 06:55:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/11519 申请日:20190906

    实质审查的生效

  • 2020-03-17

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号