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通过脉冲等离子体辅助沉积将无硅含碳膜沉积为间隙填充层的方法

摘要

本公开涉及通过脉冲等离子体辅助沉积将无硅含碳膜沉积为间隙填充层的方法。本公开提供了一种在衬底的表面上填充图案化凹部的方法,包括:在反应空间中提供包括凹部的衬底;向所述反应空间提供无硅含碳前体,从而用气相前体填充所述凹部;以及向所述反应空间提供等离子体,从而在所述凹部中形成粘性材料,其中所述粘性材料在所述凹部中流动且在所述凹部的底部积聚,从而在所述凹部的所述底部形成沉积材料,且其中所述沉积材料凝固。通过使用烃前体的等离子体辅助沉积提供完全间隙填充,在不需要氮、氧或氢等离子体的条件下基本上不形成空隙,解决了现有技术中的一个或多个问题。

著录项

  • 公开/公告号CN110670047A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASM IP控股有限公司;

    申请/专利号CN201910585357.3

  • 发明设计人 T·J·V·布兰夸尔特;

    申请日2019-07-01

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人乐洪咏

  • 地址 荷兰阿尔梅勒

  • 入库时间 2023-12-17 05:48:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-10

    公开

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